ZEM-5熱電性能分析系統(tǒng)

放大圖片	產(chǎn)品型號：
	產(chǎn)品品牌：
	當(dāng)前價格：	面議
	最小起訂：	不限
	供貨總量：	不限
	所在地：	江蘇泰州市
	發(fā)布時間：	2024-12-02 15:36

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泰州市先科儀器廠

聯(lián)系人：韓一一女士((經(jīng)理))

電話：0523--88520868

手機：13921728650

傳真：0523--88520868

地址：江蘇省泰州市城南工業(yè)園

郵編：225500

網(wǎng)址：http://www.help-services.cn/xianke8888/

E-mail：jyxianke@sina.com

詳細(xì)信息

ZEM-5熱電性能分析系統(tǒng)

技術(shù)特點：
適用于研究開發(fā)各種熱電材料和薄膜材料，提高測量精度
溫度檢測采用C型熱電偶，最適合測量Si系列熱電材料(SiGe, MgSi等) *HT型
真正可測基板上的納米級薄膜（TF型）
最大可測10MΩ高電阻材料
標(biāo)準(zhǔn)搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表
基于日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)

ZEM-5HT ZEM-5HR ZEM-5LT ZEM-5TF
特　　點高溫型高電阻型
最大電阻：10MΩ 低中溫型薄膜型
可測在基板上形成的熱電薄膜
溫度范圍 RT-1200℃ RT-800℃ -150℃-200℃ RT-500℃
樣品尺寸直徑或正方形：2 to 4 mm2 ；
長度3 ～ 15mm 成膜基板：寬2-4mm，厚0.4-12mm，長20mm
薄膜厚度：≥nm量級
薄膜樣品與基板要求絕緣
控溫精度                                        ±0.5K
測量精度                 塞貝克系數(shù)：＜±７％；　　　　   電阻系數(shù)：＜±７％
測量原理                 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；           電阻系數(shù)：四端法
測量范圍               塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；     電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ
分辨率                 塞貝克系數(shù)：10nV/K；             電阻系數(shù)：10nOhm
氣　　氛減壓Ｈｅ

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