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JKZC-ST4型半導(dǎo)體材料數(shù)字式四探針測試儀

產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品品牌:
當(dāng)前價格:面議
最小起訂:不限
供貨總量:不限
所 在 地:江蘇 泰州市
發(fā)布時間:2025-05-27 06:25
查看更多 其它設(shè)備 供應(yīng)信息
泰州市先科儀器廠
聯(lián)系人:韓一一 女士((經(jīng)理))
電話:0523--88520868
手機(jī):13921728650
傳真:0523--88520868
地址:江蘇省泰州市城南工業(yè)園
郵編:225500
網(wǎng)址:http://www.help-services.cn/xianke8888/
E-mail:jyxianke@sina.com
詳細(xì)信息  
JKZC-ST4型半導(dǎo)體材料數(shù)字式四探針測試儀

關(guān)鍵詞:電阻,電阻率,四探針,半導(dǎo)體

       
     
       薄膜探頭測薄膜            鎢針探頭
一、產(chǎn)品概述
    JKZC-ST4型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
二、符合:
1、符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、
2、符合GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
3、符合美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)
二、產(chǎn)品應(yīng)用:
1、測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;
2、可測柔性材料導(dǎo)電薄膜電阻率/方阻
3、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)電阻率/方阻
4、納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻
5、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量
6、可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻
二、基本技術(shù)參數(shù)
1、  測量范圍
     電  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
   電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
   方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
   靜壓電系數(shù):0-2000PC/N(另配)
2、測量方式:自動或手動
3、基本精度:±0.1/%
4、四探針探頭:
   (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可
5. 電源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz
6、操作環(huán)境:  0°C -40°C ,≤90%RH
7、外形尺寸:200mm(長)×220 mm(寬)×100mm(高)
8、數(shù)據(jù)傳輸方式;USB
9、軟件方式:人性化分析軟件界面,數(shù)據(jù)自動生成 
10、可以配合壓電材料的靜壓電d33系數(shù):0-2000PC/N
 

     
                      分析軟件(一) 
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