測(cè)量模式設(shè)置：測(cè)量時(shí)選擇不同的測(cè)量模式中的一種

兩點(diǎn)模式

測(cè)量兩點(diǎn)的水平或者垂直距離。當(dāng)兩點(diǎn)的水平距離大于垂直距離時(shí)，系統(tǒng)判斷為測(cè)量水平距離，否則兩點(diǎn)模式測(cè)量的是垂直距離。

五點(diǎn)模式

通過十字交叉線可觀測(cè)到5個(gè)點(diǎn)，用回車鍵進(jìn)行確認(rèn)，可獲得卷邊長度，罐身鉤長度，罐蓋鉤長度及搭接長度。

五點(diǎn)模式 七點(diǎn)模式 八點(diǎn)模式

七點(diǎn)模式

通過十字交叉線可觀測(cè)到7個(gè)點(diǎn)，用回車鍵進(jìn)行確認(rèn)，可獲得卷邊長度，搭接長度，搭接百分率，罐身鉤長度，罐蓋鉤長度及罐身鉤搭接百分率。

八點(diǎn)模式

通過十字交叉線可觀測(cè)到8個(gè)點(diǎn)，用回車鍵進(jìn)行確認(rèn)，可獲得卷邊長度，搭接長度，搭接百分率，罐身鉤長度，手電筒鑒別照珍珠罐蓋鉤長度，罐身鉤搭接百分率及卷邊間隙。

卷邊厚度測(cè)量

在菜單模式"5+2", "7+2", and "8+2"下，除了上述提到的測(cè)量參數(shù)外，還可以進(jìn)行卷邊厚度的測(cè)量。所有測(cè)量過程中，您所選擇的測(cè)量模式總會(huì)顯示在屏幕上方。

卷邊厚度測(cè)量中的X-jump和X-offset

對(duì)于卷邊厚度測(cè)量必須先確定測(cè)量點(diǎn)的頂點(diǎn)，在這點(diǎn)上進(jìn)行卷邊厚度測(cè)量，壓住鼠標(biāo)左鍵可獲取***新的的X-jump和X-offset設(shè)定值。輔助線與卷邊上沿的交叉點(diǎn)是卷邊厚度測(cè)定的***個(gè)點(diǎn)，您所采用的x-jump值是一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值，手電筒鑒別照珍珠一般建議在1,5 - 2,0 mm 之間。輔助斜線與卷邊下沿的交叉點(diǎn)是卷邊厚度測(cè)定的第二個(gè)點(diǎn)，卷邊厚度軟件在選擇上述兩點(diǎn)后會(huì)自動(dòng)呈現(xiàn)，您所采用的x- offset值是一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值，一般建議在4°- 8° 之間。兩值的修改可通過按組合鍵Alt+Ctr+鼠標(biāo)左鍵進(jìn)入修改界面。

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